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          日本理學ZSX Primus III+ 波長色散X射線熒光光譜儀

          型號:ZSX Primus III+
          X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。

          產品描述

          X射線管位于分析樣品上方,最大程度減少了真空室內飄散粉末損壞光管的風險,并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡便。
          可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到最佳。



          特點
          • 實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析

          • 高精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求

          • 特殊光學系統減少樣品表面不平而引起的誤差

          • 樣品室可簡單移出方便清潔

          • 操作界面簡潔、自動化程度高


          ZSX Primus III +

          Rigaku ZSX Primus III +在各種樣品類型中快速定量測定從鈹(Be)到鈾(U)的主要和次要原子元素。

          高于光學元件的管道,可靠性更高

          ZSX Primus III +具有創新的光學上述配置。由于樣品室的維護,再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間。

          高精度樣品定位

          樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對于要求高精度的應用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用獨特的光學配置進行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒

          使用EZ-scan軟件的SQX基本參數

          EZ掃描允許用戶在未事先設置的情況下分析未知樣品。節省時間功能只需點擊幾下鼠標并輸入樣品名稱。結合SQX基本參數軟件,它可以提供最準確,最快速的XRF結果。SQX能夠自動校正所有的矩陣效應,包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質和不同樣品尺寸的二次激發效應。使用匹配庫和完美的掃描分析程序可以提高準確度。


          特征

          • 元素從Be到U的分析

          • 管道上方的光學器件使污染問題最小化

          • 占地面積小,使用的實驗室空間有限

          • 高精度樣品定位

          • 特殊光學元件可減少曲面樣品表面造成的誤差

          • 統計過程控制軟件工具(SPC)

          • 吞吐量可以優化疏散和真空泄漏率


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