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          理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi

          型號:ZSX Primus IVi
          理學波長色散型X射線熒光光譜儀ZSX Primus IVi,采用下照式光路結構,能夠對液體、合金和電鍍金屬等樣品進行無損分析。ZSX Primus IVi為分析最復雜的樣品提供了卓越的性能和靈活性。

          產品描述

          理學波長色散型X射線熒光光譜儀 ZSX Primus IVi


          ZSX Primus IVi 具有一個30微米的鈹窗的X光管,這是業內最薄的鈹窗,具有卓越的輕元素檢測限。



          提高通量


          通過高速數據處理和各驅動部的高效控制提高了通量。 對于水泥樣品 (加壓成型樣品)中16種元素的定量分析, 縮短約18% (與本公司相比), 增加了單位時間內處理的樣品數量。



          D-MCA高速分析


          數字多通道分析儀(D-MCA)系統有助于高速數字處理,實現高計數率,從而提高分析精度和計算速度。



          光學系統不易受到樣品表面高度變化的影響


          不平整的樣品表面會導致樣品和X射線管之間的距離變化。這些差異可能導致X射線強度的變化。Rigaku光學系統能夠抑制由距離變化引起的X射線強度變化。這使得制備玻璃熔 片的坩堝形狀的差異以及粉末樣品加壓成型時樣品表面的不平整的影響減少, 從而能夠進 行準確的分析。



          精準的SQX分析


          SQX分析是用于精確計算元素組成的無標準FP分析軟件?,F在比以往任何時候都更易于使用。



          自動芯線清洗機構


          F-PC探測器芯線逐漸被氣體污染,從而降低分辨率。芯線清潔機構通過電加熱消除芯線污染,無需關閉電源或打開機柜,從而恢復性能。



          特征


          輔助測量和分析支持:ZSX Guaidance—自動化分析設置功能增強的第三代SQX分析軟件


          ZSX Guaidance軟件—內置XRF專業知識可處理復雜的設置??捎玫膽贸绦虬С纸昏€匙操作。


          可編程的直觀軟件,用于使用樣品托盤進行日常分析—每個托盤的樣本ID設置(便于輕松復制和粘貼,以實現高效的測量設置)。


          提高了液體樣品分析的準確性—校正由液體樣品杯的幾何形狀引起的幾何形狀效應。


          高速、高精度測量—采用新驅動有效的降低了儀器運行時間


          獨特的功能—下照式光路結構實現了方便的功能,包括新樣品膜校正。


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